Accesorios y Portamuestras para Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) (SE ADJUNTA ARCHIVO CON FOTOS)

Llaves Allen

Juego de llaves hexagonales de precisión para equipamiento científico, compuesto por medidas 1,5 mm, 2,0 mm, 2,5 mm y 3,0 mm, con mango metálico ergonómico. EQUIVALENTE A EM-TEC

Pasadores de montaje

Portamuestras para microscopía electrónica de barrido (SEM), tipo clip simple, compatible con soporte tipo pin de 19 mm de diámetro.

Pasadores de montaje

Portamuestras para microscopía electrónica de barrido (SEM), tipo doble clip orientable en ángulos de 45° y 90°, compatible con soporte de 25,4 mm de diámetro.

Pasadores de montaje

Portamuestras para microscopía electrónica de barrido (SEM), tipo doble clip a 90°, compatible con soporte de 25,4 mm de diámetro.

Unidades de laboratorio

Patrón de resolución para microscopía electrónica de barrido (SEM), compuesto por partículas metálicas depositadas sobre sustrato de carbono, con rango de resolución aproximado entre 6,5 nm y 30 µm, montado sobre soporte metálico compatible con portamuestras tipo pin de 12,7 mm de diámetro EQUIVALENTE A EM-TEC